S.M.A.R.T. (Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology) - Встроенные функции самоконтроля

Written on . Posted in BIOS

ОГЛАВЛЕНИЕ

Страница 7 из 7
 

1.6. Встроенные функции самоконтроля

(self-test)

    Практически с момента появления стандарта S.M.A.R.T. II, в большинстве накопителей появилась новая функция - внутренняя диагностика и самоконтроль, для углубленного контроля состояния механики накопителя, поверхности дисков и т.п.
Для запуска этой функции, в набор команд S.M.A.R.T. была введена новая команда - SMART EXECUTE OFF-LINE IMMEDIATE. Результат работы сохраняется либо в специализированных атрибутах, либо отдельным параметром среди других данных в атрибутах. Если накопитель поддерживает журналы S.M.A.R.T., то результат выполнения тестов сохраняется также в журнале Self-test Log.
После выполнения теста, накопитель в обязательном порядке обновляет показания во всех атрибутах и других параметрах.
Если во время выполнения внутреннего теста накопитель получит по интерфейсу новую команду, то выполнение теста прерывается и накопитель приступает к обработке поступившей команды.
 

1.6.1. Методы тестирования

Существует два способа запуска тестов S.M.A.R.T.: автономный (off-line) или монопольный (captive). Результат теста всегда сохраняется накопителем в данных S.M.A.R.T..
При автономном запуске накопитель сообщает о успешном завершении команды ДО ее ФАКТИЧЕСКОГО исполнения и только после этого выполняет тест. При этом, по интерфейсу флаг ЗАНяТО (BSY) не выставляется и накопитель в любой момент готов приступить к выполнению очередной интерфейсной команды, приостанавливая работу теста. Фактически, тест выполняется в фоновом режиме.
При запуске теста в монопольном режиме, по интерфейсу выставляется флаг ЗАНяТО (BSY) и накопитель начинает непосредственное выполнение теста в режиме реального времени. Любая интерфейсная команда во время выполнения этого теста приведет к его прерыванию и остановке, после чего накопитель приступит к обработке поступившей команды.
 

1.6.2. Разновидности тестов S.M.A.R.T.

Официально документированы три вида внутренних тестов, однако еще существует набор так называемых "активных" тестов, функциональные особенности которых различны у разных производителей и для широкой публики не документированы.

  • №
  • Название теста
  • off-line
  • captive
  • 1
  •   Off-line collection
  • +
  • -
  • 2
  •   Short Self-test
  • +
  • +
  • 3
  •   Extended Self-test
  • +
  • +
  • 4
  •   Drive Activity test #1..#4
  • +
  • +

Время тестирования может варьироваться от 1 секунды (Quantum) до 54 минут (Fujitsu MPG3409AT).
Поддержка первого теста наиболее вероятна даже в очень старых накопителях 4-5 летней давности.
Второй и третий тесты появились относительно недавно, как дань внедренным сложным технологическим решениям - для полного контроля состояния накопителя пришлось реализовывать более глубокие и точные тесты.
Поддержка 4-х "активных" тестов (см. таблицу, п.4) официально не документированна.
    Реальный набор выполняемых тестами функций можно рассмотреть на примере тестов, поддерживаемых жесткими дисками Hitachi: 

  • Функция теста
  • Short Self test
  • Extended Self test
  • Off-line Collection
  • Raw Read Error Rate Test
  • YES
  • YES
  • YES
  • Write Test
  • YES
  • YES
  • NO
  • Servo Test
  • YES
  • YES
  • NO
  • Partial Read Scanning
  • YES
  • NO
  • NO
  • Full Read Scanning
  • NO
  • YES
  • YES
  • Источник: PC JUNGLE SOFTWARE
форум bios