S.M.A.R.T. (Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology) - Встроенные функции самоконтроля
ОГЛАВЛЕНИЕ
Страница 7 из 7
1.6. Встроенные функции самоконтроля
(self-test)
Практически с момента появления стандарта S.M.A.R.T. II, в большинстве накопителей появилась новая функция - внутренняя диагностика и самоконтроль, для углубленного контроля состояния механики накопителя, поверхности дисков и т.п.Для запуска этой функции, в набор команд S.M.A.R.T. была введена новая команда - SMART EXECUTE OFF-LINE IMMEDIATE. Результат работы сохраняется либо в специализированных атрибутах, либо отдельным параметром среди других данных в атрибутах. Если накопитель поддерживает журналы S.M.A.R.T., то результат выполнения тестов сохраняется также в журнале Self-test Log.
После выполнения теста, накопитель в обязательном порядке обновляет показания во всех атрибутах и других параметрах.
Если во время выполнения внутреннего теста накопитель получит по интерфейсу новую команду, то выполнение теста прерывается и накопитель приступает к обработке поступившей команды.
1.6.1. Методы тестирования
Существует два способа запуска тестов S.M.A.R.T.: автономный (off-line) или монопольный (captive). Результат теста всегда сохраняется накопителем в данных S.M.A.R.T..При автономном запуске накопитель сообщает о успешном завершении команды ДО ее ФАКТИЧЕСКОГО исполнения и только после этого выполняет тест. При этом, по интерфейсу флаг ЗАНяТО (BSY) не выставляется и накопитель в любой момент готов приступить к выполнению очередной интерфейсной команды, приостанавливая работу теста. Фактически, тест выполняется в фоновом режиме.
При запуске теста в монопольном режиме, по интерфейсу выставляется флаг ЗАНяТО (BSY) и накопитель начинает непосредственное выполнение теста в режиме реального времени. Любая интерфейсная команда во время выполнения этого теста приведет к его прерыванию и остановке, после чего накопитель приступит к обработке поступившей команды.
1.6.2. Разновидности тестов S.M.A.R.T.
Официально документированы три вида внутренних тестов, однако еще существует набор так называемых "активных" тестов, функциональные особенности которых различны у разных производителей и для широкой публики не документированы.
|
|
|
|
---|---|---|---|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Время тестирования может варьироваться от 1 секунды (Quantum) до 54 минут (Fujitsu MPG3409AT).
Поддержка первого теста наиболее вероятна даже в очень старых накопителях 4-5 летней давности.
Второй и третий тесты появились относительно недавно, как дань внедренным сложным технологическим решениям - для полного контроля состояния накопителя пришлось реализовывать более глубокие и точные тесты.
Поддержка 4-х "активных" тестов (см. таблицу, п.4) официально не документированна.
Реальный набор выполняемых тестами функций можно рассмотреть на примере тестов, поддерживаемых жесткими дисками Hitachi:
|
|
|
|
---|---|---|---|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
- Источник: PC JUNGLE SOFTWARE